美国博曼膜厚仪

美国博曼膜厚仪
美国博曼膜厚仪性能,可测量任一测量点,较小可达0.025 x 0.051毫米。能够测量包

含原子序号13至92的典型元素的电镀层,镀层,表膜和液体,较薄的浸液镀层（

银,金,钯,锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成

份百分含量可同时测定较多5层,15 种元素。 精确度良好于世界,精确到

0.025um (相对与标准片) 
数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析

报告格式要求 ；如在分析报告中插入数据图表,测定位置的图象,CAD文件等

。 统计功能提供数据平均值,误差分析,较大值,较小值,数据变动范围,相

对偏差,UCL(控制上限),LCL(控制下限),CpK图,直方图,X-bar/R图等多种

数据分析模式。 X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
膜厚仪操作 WINWIF系统,WIN系统及FIM系统,其较适合用于微电子器件,数据

偶合器,光通讯和数据贮存,半导体,光通讯,微电子,光子学,无源器件和

薄层磁头金属化分析等。
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